学术动态丨分析测试中心在基于直接电子成像相机的4D-STEM先进成像技术研究取得进展
近日,南京航空航天大学分析测试中心在基于直接电子成像相机的4D-STEM先进成像技术研究方面取得进展。研究工作以“Determination of Grain-Boundary Structure and Electrostatic Characteristics in a SrTiO3Bicrystal by Four-Dimensional Electron Microscopy”为题发表在材料领域期刊《Nano Letters》上。该论文第一作者为王毅教授指导的博士生(德国马普固态研究所),我校分析测试中心为论文共同通讯单位。该篇论文是我校分析测试中心运行以来发表的首篇高水平国际期刊论文。空间电荷效应是引起电解质晶界高阻抗的起因,跨晶界输运的高激活能是阻碍开发全固态电池和中温固体氧化物燃料电池的重要因素。在过去的几十年里,双肖特基势垒模型解释了晶界的高电阻行为,即带正电的缺陷(例如:受主掺杂的晶界中的氧空位或过量阳离子)在晶界形成势垒阻碍了跨晶界的电荷传输。其相邻体区中带负电荷的空间电荷区补偿这些带正电荷的缺陷。一般来说,这些通过带电缺陷和空间电荷层的描述是从体特性的实验数据间接
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