10月30日下午，德国校正光学CEOS公司资深应用科学家Giulio Guzzinati博士受我校分析测试中心邀请开展讲座。讲座主题聚焦电子能量损失谱（EELS）技术的最新突破与应用，吸引校内20余名师生到场参与。
作为长期深耕 EELS 技术研发与应用的权威专家，Guzzinati博士结合自身多年科研积累，系统分享了该技术的革命性进展，包括如何利用新一代仪器大幅扩展电子能量损失精细结构的应用范围。他详细阐述了如何通过对透射电子显微镜的投影光学系统进行重新对准，优化光谱仪设置，并引入能量选择性光束阻挡器等关键部件，成功解决高能损失下的信号均匀性与伪影问题。他指出该技术可精准解析纳米材料的元素价态、化学键结构及电子态分布，为先进功能材料研发、催化机制探究等前沿研究提供更精准的表征手段。
现场师生就EELS实验技巧、技术瓶颈与未来应用前景等问题与Guzzinati博士进行了深入而热烈的交流。本次讲座不仅让师生近距离接触国际顶尖表征技术，拓宽师生们的学术视野，更为我校相关学科在先进材料分析与表征技术领域的研究搭建了国际交流桥梁，为开展跨学科合作、攻克技术难题提供思路。
专家简介：Giulio Guzzinati博士，德国校正光学CEOS应用科学家，2015年于比利时安特卫普大学获博士学位，2015-2021年在比利时安特卫普大学EMAT电镜中心从事博士后研究工作，2021年成为德国校正光学任应用科学家（Senior Application Scientist），长期专注于透射电子显微镜表征技术研发与应用，在 EELS 技术优化、高分辨材料分析等领域拥有深厚积累与丰硕成果。