4月16日，我校分析测试中心联合上海微纳国际贸易有限公司举办了一场透射电镜制样及应用技术研讨会。此次研讨会旨在推广透射电镜制样相关技术知识并推动技术应用与创新，吸引了60余名校内外师生线下、线上共同参与。
会议开始，分析测试中心王毅主任发表致辞，强调了透射电镜制样技术在多个学科研究领域的重要性，并对与会专家、师生表示热烈欢迎。上海微纳公司衡潘结合分析测试中心目前配备的NanoMill微束定点精修系统、TEM Mill精密离子减薄仪、精密机械研磨机及金刚石慢速锯等设备，介绍了公司此类产品的性能、应用范围等。随后，来自北京工业大学的材料变形以及材料电子显微结构表征研究领域专家王立华围绕纳米金属材料变形机制的原位原子尺度表征，线上分享了近期研究成果，并与参会人员就技术难点、应用挑战及未来发展方向进行了交流和探讨。
会议中，来自上海微纳公司的高级应用工程师葛小敏、赵颉重点围绕FISCHIONE TME制样技术、DECTRIS混合像素探测器在4D-STEM研究中的应用等主题分别进行了精彩的报告。他们详细介绍了这些技术的原理、操作要点以及应用案例，为参会人员提供了宝贵的经验和启示。同时，与会者们也积极提问、交流心得，现场气氛热烈融洽。
下午，结合研讨会展示的多种先进的透射电镜制样设备和技术理论知识，依托分析测试中心现有的仪器设备，开展了电镜制样操作技术培训，让师生们更直观、深入地了解透射电镜制样技术的应用成果，也为他们提供研究方法参考。
此次透射电镜制样及应用技术研讨会的圆满举行，不仅为师生们提供了技术学习交流的平台，也为我校分析测试中心在透射电镜制样技术领域的发展奠定了基础。希望与会师生能够将学到的知识和经验应用到实际工作中，产出更多透射电镜制样技术方面的显著成果，为推动相关学科科学研究的发展贡献更多的力量。